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测控教学综合实验平台触单片机、微机、8/16/32位综合实验开发装置

描述:罢驰颁碍-809型 测控教学综合实验平台触单片机、微机、8/16/32位综合实验开发装置
由实验台和活动挂箱及扩展模块组成。实验台美观大方,尺寸可选;活动挂箱包括颁笔鲍挂箱、叠鲍厂总线挂箱、自动控制挂箱、计算机控制挂箱。

更新时间:2015-07-09
产物型号:罢驰颁碍-809型
厂商性质:生产厂家
详情介绍

罢驰颁碍-809型 测控教学综合实验平台触单片机、微机、8/16/32位综合实验开发装置

一、主要特点

罢驰颁碍-809型 测控教学综合实验平台触单片机、微机、8/16/32位综合实验开发装置CPU配置灵活,扩展无极限。涵盖了MCS-51单片机、MCS-96单片机、IN8088微机、单片机网络接口应用、自动控制和计算机控制等多种技术,提供了优化的软件和硬件集成环境,适合单片机原理及接口技术"微机控制技术"微机原理与接口"、“自动控制原理及其应用技术"、“计算机控制技术"等教学实验大纲要求,配有丰富的外围接口电路,提供完善的实验例程,是各高等院校开展微处理器教学、现代控制理论教学,课程设计、电子设计竞赛及科研开发的理想设备。

罢驰颁碍-809型 由实验台和活动挂箱及扩展模块组成。实验台美观大方,尺寸可选;活动挂箱包括颁笔鲍挂箱、叠鲍厂总线挂箱、自动控制挂箱、计算机控制挂箱。CPU挂箱上有CPU卡接口插座,可以分别插上51CPU卡,KeilCPU卡,96CPU卡,88CPU卡构成不同的仿真实验开发系统;每个BUS总线挂箱zui多可以插三个接口模块,每个接口模块有2~8个实验。

二、硬件资源

1.实验台

罢驰颁碍-809型 是整个系统的依托,采用上下两部分分离式设计。上半部分是实验挂箱区,可安装3个或4个活动挂箱及其接口功能模块,是系统的核心部分;下半部分是支撑部分,包括操作台、显示器托盘、PC机柜、键盘托盘、储物抽屉。实验台尺寸可选。交流供电为单相叁线220V±10%,配有漏电保护装置,系统内置高性能直流稳压电源(输出:±12V/1A , 5V/5A)。

2.活动挂箱

活动挂箱包括CPU挂箱(尺寸:290mm*400mm)、BUS接口挂箱((尺寸:250mm*400mm)。

1) CPU挂箱

挂箱主要用于插接不同的CPU模块,目前支持的CPU有:89S5280C1968088Cygnal51Keil C51。挂箱上包含了CPU模块的接口插座和基本实验电路及系统扩展电路,可单独完成大部分的基本实验。

CPU挂箱上的资源如下:

18250串行接口

28255并行接口

3,键盘/LED显示接口

48237DMA控制器

50809A/D转换

60832D/A转换

78位开关量输入/LED显示

8,单脉冲发生器

9,连续可调模拟量输出

108253可编程定时器,

118251串行接口,

12,可编程中断控制器8259

13,总线接口

2) BUS接口挂箱

接口挂箱主要用于插接不同的实验模块,进行系统扩展。该挂箱含稳压电源接口,2CZBUS接口插座,用于和其它挂箱连接。

目前支持的接口类模块主要有电机类,LCD类, I/O扩展类,串行AD/DA类,通讯接口类,静态显示类,EDAPCI9054接口板,PCI-IOM类等。

用户可以根据需要选择使用这些模块,同时还可按照BUS接口总线的定义自行开发所需的接口模块,使系统可以无限升级,真正成为一个开放式的系统。

自动控制挂箱和计算机控制挂箱能完成自控和计控的所有实验。


叁、实验项目

·51/96/88部分实验

()软件实验

1)清零程序;                                                               51/96

2)拆字程序;                                                               51/96

3)拼字程序;                                                               51/96

4)数据区传送子程序;                                                  51/96

5)数据排序实验;                                                        51/96

6)查找相同数据个数;                                                 51/96

7)无符号双字节快速乘法子程序;                                 51/96

8)多分支程序;                                                          51/96

9)脉冲计数实验;                                                       51

10)电脑时钟实验。                                                     51

()硬件实验

1P1口亮灯实验;                                                       51/96

2P1口转弯灯实验;                                                    51/96

3P3.3口输入,P1口输出实验;                                  51/96

4)工业顺序控制实验;                                                 51/96

58255 ABC口输出方波实验;                                51/96

68255 PA口控制PB口;                                             51/96/88

78255控制交通灯;                                                    51/96/88

8)简单I/O扩展实验;                                                   51/96/88

9A/D0809转换实验;                                                   51/96/88

10D/A0832转换实验;                                          51/96/88

118279键盘显示实验;                                         51/96/88

12)通用打印机实验;☆                                         51/96     

13)微型打印机打印字符、曲线、汉字实验;☆      51/96

14)数码管倒计时的道路模拟交通灯;☆                        51

15I2C储存卡读写实验;☆                                    51

16)语音芯片ISD1420控制实验(录音);☆           51/88

17)语音芯片ISD1420控制实验(放音);☆           51/88

18)继电器控制实验;                                                    51/96/88                             

19)步进电机控制;                                                       51/96/88

208253方波实验;                                                       51/96/88

21)小直流电机调速实验;☆                                         51/88

2216*16 LED点阵显示实验;☆                            51/88

23128*64 LCD液晶显示实验;☆                                 51/88

248250可编程异步通讯接口实验(自发自收);     51/88

258251可编程通讯接口实验(与PC机);             51/88

26)单片机RS232/485串行发送实验(双机通讯);  51

27)单片机RS232/485串行接收实验(双机通讯);  51

28CAN总线通讯接口实验;☆                              51

29)以太网TCP/IP协议接口实验;☆                      51

30USB2.0通讯接口实验。☆                                        51

31DS18B20单总线温度测量实验                              51

32)红外线遥控收发实验☆                                      51

33TLC549串行A/D转换实验                            51

34TLC5615  10D/A串行转换实验                51

35PCF8563  I2C日历时钟实验                          51

36)看门狗实验                                                         51

37PWM实验                                                        51

38)射极跟随器                                                       51

39AT24C02  I2C总线存储器读写实验               51

40)串行存储芯片93C46读写实验                       51

41LM331电压/频率转换实验☆                             51

4274LS164 串入并出实验☆                                         51

4374LS164 串入并出实验                                        51

4474LS138译码器实验                                             51

458155输入,输出,SRAM实验                              51/88

  计算机控制技术实验部分
    1.    A/DD/A转换                 2. 采样保持器
    3.    数字滤波                        4. 积分分离式PID控制
    5.    锄耻颈小拍有纹波系统实验       6. 锄耻颈小拍无纹波系统实验
    7.    大林算法控制                  8. 非线性控制
    9.    解耦控制                        10. 综合控制实验
  自动控制原理实验部分
    1.    典型环节的模拟研究          2. 典型系统瞬态响应和稳定性
    3.    系统校正                        4. 控制系统的频率特性
    5.    典型非线性环节                6. 非线性系统(一)
    7.    非线性系统(二)             8. 采样系统分析
    9.    采样控制系统的校正          l0. 状态反馈(极点配置)
 控制系统实验部分
    1.    直流电机闭环调速实验
    2.    温度闭环控制实验
    3.    步进电机调速实验



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  周克礼

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